Erlon Henrique Martins Ferreira

Bachelor's degree in Physics from Universidade Federal de Minas Gerais (1998), M. Sc. (Physics) from Universidade Federal de Minas Gerais (2001) and D. Sc. (Physics) from Universidade Federal de Minas Gerais (2006). Permanent position as researcher at the National Metrology Institute of Brazil. Has experience in Condensed Matter Physics, focusing on optical and spectroscopic properties of materials, specially carbon nanostructures. Acts as the Quality Manager of the Scientific Metrology and Technology Directorate of Inmetro and is the Brazilian representative at the SIM QSTF. Chair of the TWA 42 of VAMAS project in the area of Metrology for Raman spectroscopy in collaboration with other National Institutes of Metrology, such as NIST, NRC, NPL among others. Secretary of the National Comittee on Nanotechnologies (CEE-089) at ABNT, and member of the ISO/TC 229 - Nanotechnologies.

Possui graduação em Física-Bacharelado (1998), mestrado em Física (2001) e doutorado em Física (2006), e pós-doutorando (2007-2008) sempre na Universidade Federal de Minas Gerais. Sua principal área de pesquisa foi em Física teórica, com ênfase em Teoria Geral de Partículas e Campos, Mecânica Quântica de Sistemas Abertos e Sistemas de Muitos Corpos com atuação nos seguintes temas: condensados de Bose-Einstein, física de sistemas mesoscópicos e técnicas de TQC aplicadas à matéria condensada. Atualmente é pesquisador no Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) trabalhando na área de espectroscopias ópticas, como Raman e Infravermelho aplicadas ao estudo e caracterização de materiais, em especial nanoestruturas de carbono, com ênfase na quantificação de defeitos. Atua também como Gestor da Qualidade da Diretoria de Metrologia Científica e Tecnologia e representa o Brasil no SIM QSTF. Coordena o grupo de trabalho TWA 42 do Projeto VAMAS na área de Metrologia para Espectroscopia Raman em colaboração com outros Institutos Nacionais de Metrologia, como o NIST (EUA), NRC (Canadá), NPL (Inglaterra) dentro outros. É secretário da Comissão de Estudo Especial de Nanotecnologia (CEE-089) da ABNT e membro do TC229 - Nanotechnologies da ISO, do qual a CEE-089 é o espelho nacional.