He has undergraduation degree in Physics from the Federal University of Ceará (2004), a Master's degree in Physics from the State University of Campinas (2006) and a PhD in Physics from the State University of Campinas (2010). He was a DCR Fellow in 2011 at the Federal University of Maranhão. He is currently Associate Professor I at Federal University of Maranhão, head of the Physics Department at UFMA, ad hoc consultant at FAPEMA, user of the National Synchrotron Light Laboratory (LNLS), coordinator of the Materials Analytical Center at UFMA and permanent member of the Postgraduate Program in Physics from UFMA, the Postgraduate Program in Materials Science from UFMA and of the Postgraduate Program in Aerospace Engineering at UFMA. He has experience in the field of Physics, with emphasis in Condensed Matter Physics, working mainly on the following topics: Crystal Growth, Nanoparticle Synthesis, X-ray Diffraction in Polycrystals, thin films and Single crystals, Rietveld Method, Reciprocal Space Mapping, X-ray Multiple Diffraction with Synchrotron Radiation.
Possui graduação em Física pela Universidade Federal do Ceará (2004), mestrado em Física pela Universidade Estadual de Campinas (2006) e doutorado em Física pela Universidade Estadual de Campinas (2010). Foi bolsista DCR em 2011 na Universidade Federal do Maranhão. Atualmente é professor Associado I da Universidade Federal do Maranhão, chefe do Departamento de Física da UFMA , consultor adhoc da FAPEMA, usuário do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS), coordenador da Central Multiusuário de Pesquisa em Materiais e Biossistemas (CeMatBio) da UFMA e membro permanente do Programa de Pós-graduação em Física da UFMA, do Programa de Pós-graduação em Ciências dos Materiais da UFMA e do Programa de Pós-graduação em Engenharia Aeroespacial da UFMA. Tem experiência na área de Física, com ênfase em Física da Matéria Condensada, atuando principalmente nos seguintes temas: Crescimento de Cristais, Síntese de Nanopartículas, Difração de Raios-X em Policristais, Filmes Finos e Monocristais, Método Rietveld, Mapeamento do Espaço Recíproco, Difração Múltipla de Raios-X com Radiação Síncrotron e Microscopia Eletrônica de Varredura.
