Bráulio Soares ARCHANJO

Dr. Braulio S. Archanjo received his Ph.D. in physics from the Federal University of Minas Gerais, in Brazil in 2008 when he joined the Materials Metrology Division in the National Institute of Metrology, Quality and Technology of Brazil (Inmetro) as a research scientist. In 2016, Dr. Archanjo has developed a postdoctoral project in 3D EELS tomography in plasmonic nano-antennas in cooperation with the Nacional Center for Electron Microscopy (NCEM) at Berkeley Labs. His research interest includes: graphene and other 2D materials, soil carbon and nanoparticles as reference materials making use of transmission and scanning electron microscopy, focused ion beam including helium ion microscopy, scanning probe microscopy, scanning near optical microscopy, micro Raman spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and X-ray diffraction.

Possui doutorado em física pela Universidade Federal de Minas Gerais e pós-doutorado no National Center for Electron Microscopy (NCEM) do Lawrence Berkeley National Laboratory. Atualmente é Pesquisador Tecnologista em Metrologia da Qualidade na Divisão de Metrologia de Materiais do INMETRO atuando como chefe do no Núcleo de Laboratórios de Microscopia. Tem experiência na área de ciências dos materiais, com destaque em nanociência, nanotecnologia e nanometrologia, incluindo as seguintes técnicas e temas: microscopia eletrônica de transmissão, microscopia eletrônica de varredura, feixe de íons focalizados (FIB), microscopia de feixe de íons de hélio, difração de raios X, espectroscopia micro Raman, microscopia de varredura por sonda, espectroscopia de fotoelétrons, deposição por vapor químico (CVD), autoconstrução, microfabricação, materiais bidimensionais e carbono do solo.