Rodrigo Ribeiro de Andrade

I have a bachelor's degree in Physics at Universidade of Minas Gerais (2003), a Master's degree (2005) and a PhD (2010) in Physics at same University. I performed a post-doctoral research in ion beam microscopy at Centro de Microscopia of Universidade of Minas Gerais (2011-2014) and scanning transmission electron microscopy (STEM), aberration corrected microscopy (Cs-corrected) and holography at International Iberian Nanotechnology Institute in Braga, Portugal (2014-2016). I worked as a visiting researcher in the characterization of Nb microligated steels by transmission electron microscopy at Instituto Senai de Metalurgia e Ligas Especiais (Belo Horizonte, Brazil). He is currently Researcher at Instituto Senai de Metalurgia e Ligas Especiais (Belo Horizonte, Brazil) working on the characterization of alloys by scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and X-ray diffraction. I have skills in nanostructure growth by Molecular Beam Epitaxy, Scanning Electron Microscopy (SEM), Focused Ion Beam Microscopy (FIB), Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM, Cs-corrected, EDS, EELS, holography, tomography), Atomic Force Microscopy (AFM) and X-ray Diffraction (XRD).

Possui graduação em Física pela Universidade Federal de Minas Gerais (2003) e Mestrado em Física pela Universidade Federal de Minas Gerais (2005) e Doutorado em Física pela Universidade Federal de Minas Gerais (2010). Realizou pós-doutoramento em microscopia por feixe de íons focalizados no Centro de Microscopia da Universidade Federal de Minas Gerais (2011-2014) e em microscopia de transmissão em modo varredura (STEM), microscopia corrigida (Cs-corrected) e holografia no International Iberian Nanotechnology Institute em Braga, Portugal (2014-2016). Atuou como pesquisador visitante na caracterização de aços microligados ao Nb por microscopia eletrônica de transmissão no Instituto Senai de Metalurgia em Ligas Especiais (Belo Horizonte, Brasil). Trabalhou como coordenador dos laboratórios de microscopia e preparação de amostras e difração de raios-X do Centro de Inovação e Tecnologia (CIT) do SENAI-MG. Tem experiência em crescimento de nanoestruturas por Epitaxia por Feixe Molecular, Microscopia Eletrônica de Varredura, Microscopia por Feixe de Íons, Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM, STEM, Cs-corrected, EDS, EELS, holografia, tomografia), Microscopia de Varredura por Sonda e Difração de Raios-X.