Possui doutorado em Engenharia Metalúrgica e de Materiais pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (1987). Professor titular do Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós Graduação e Pesquisa de Engenharia (COPPE-UFRJ) onde chefiou a Área de Filmes Finos e Superfícies por 8 anos, foi Coordenador do curso de Graduação de Metalurgia, criou o curso de Engenharia de Materiais. No ano de 2003 foi cedido ao Inmetro onde foi o responsável pela criação da Divisão de Metrologia de Materiais, Dimat. Atualmente é pesquisador sênior Inmetro onde ocupa o cargo de Especialista em Metrologia e Qualidade. Coordena o Laboratório Nacional de Nanometrolgia INMETRO( SISNANO). Representa o Inmetro junto ao VAMAS e ao Fórum Internacional de institutos de pesquisa em materiais (WMRIF) .Tem experiência na área de Engenharia de Materiais, Física da Matéria Condensada, com ênfase em propriedades físico químicas de materiais e filmes finos; atuando principalmente nos seguintes temas: Análise de de Superfícies e Interfaces, Microscopia de Força Atômica, Microscopia de Tunelamento e Varredura, Funcionalização de Superfície por plasma, revestimentos protetores, Microscopia Eletrônica de Varredura e Transmissão, Espectroscopia Raman e Nanometrologia.
ph.d. at Material and Metallurgical Engineering from Universidade Federal do Rio de Janeiro (1987). Has experience in Physic, focusing on Liquids and Solids Structure; crystallography, acting on the following subjects: afm, magnetron sputtering, hard thin films, plasma treatment and superfícies e interfaces.
