Flavio Alexandre da Silveira

Recebeu em 2012 o grau de Doutor em Física pela Universidade Federal Fluminense (UFF Rio de Janeiro) aplicando soluções de Física Estatística Computacional a problemas em dinâmica de superfícies em filmes finos. Atualmente, ocupa uma posição no corpo permanente depesquisadores da Divisão de Metrologia Elétrica do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Inmetro.

Received the D.Sc. degree in physics from Universidade Federal Fluminense (UFF), Rio de Janeiro, in 2012, by applying statistical solutions to the thin-film surface dynamics. He presently occupies a position in the permanent body of researchers at the Electrical Metrology Division of Inmetro, the national institute of standards of Brazil.