Cesar Augusto Diaz Mendoza

He holds a Bachelor's Degree in Physics from the Universidad Del Atlántico in Colombia (2011), a Master's in Physics in 2014 and a Doctorate in Physics in 2018, both from the Pontifical Catholic University of Rio de Janeiro (PUC-Rio). He has experience in Physics, emphasising Condensed Matter Physics, working mainly on low-dimensional materials such as Carbon Nanotubes (NTC), Graphene and Transition Metals Dichalcogenides (TMDs). The synthesis of these materials is primarily done using the chemical vapour deposition method (CVD) on different surfaces, which, in the case of Graphene, can be metallic (for example, Copper and Nickel) or non-metallic (by example, Germanium and Silica), and in TMDs on silicon dioxide (SiO2/Si). The basis of the characterisations is from the implementation of both microscopic and spectroscopic techniques. As the Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Raman, X-ray and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (XPS and UPS), and Scanning Tunneling Microscopy (STS).

É Bacharel em Física pela Universidad Del Atlántico da Colômbia (2011), obteve o Mestrado em Física em 2014 e o Doutorado em Física em 2018 ambos pela Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro (PUC-Rio). Tem experiência na área de Física, com ênfase em Física da Matéria Condensada, atuando principalmente nos materiais de baixa dimensionalidade como são os Nanotubos de Carbonos (NTC), Grafeno e Dicalcogenuros de Metais de Transição (TMDs). A síntese destes matérias é feita principalmente por médio do método de deposição química por fase vapor (CVD do inglês Chemical Vapour Deposition) sobre diferentes superfícies que no caso do Grafeno pode ser metálica (por exemplo, o Cobre e Níquel) ou não metálica (por exemplo Germânio e a Sílica), e nos TMDs sobre dióxido de silício (SiO2/Si). A base das caraterizações são a partir da implementação de técnicas tanto microscópicas como espectroscópicas. Destacando na microscópica, a Microscopia de Tunelamento eletrônico de Varredura (STM do inglês Scanning Tunnelling Microscopy) e na espectroscópica, Raman, espectroscopia de fotoelétrons induzidos por raios x e ultravioleta (XPS e UPS do inglês X-ray and Ultraviolet Photonelectrons Spectroscopy respectively) e espectroscopia por tunelamento eletrônico de varredura (STS do inglês Scanning Tunnelling Microscopy).