Thiago Menegotto

BA degree in Physics (2003) and PhD degree in Microelectronics (2011) at Universidade Federal do Rio Grande do Sul. He has been working at Brazilian Institute of Metrology (Inmetro) since 2008.

Possui Bacharelado em Física (2003) e Doutorado em Microeletrônica (2011) pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS). Desde 2008 é Pesquisador Tecnologista do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro). Tem experiência na área de Física, com ênfase em caracterização óptica e em simulação de ressonâncias de plasmon de superfície em materiais nanopartículados. Além disso, possui experiência em metrologia óptica, sobretudo na caracterização de detectores de silício utilizados como padrões de transferência para medidas radiométricas e fotométricas.