Graduou-se em Engenharia Química (1998) pela UFRJ e obteve os graus de mestre (2001) e doutor (2007) em Engenharia Metalúrgica e de Materiais pela PUC-Rio. Entre 2012 e 2013, passou um ano na Universidade de Liège (Bélgica) em um pós-doutorado. Atualmente é Tecnologista Sênior III no Centro de Tecnologia Mineral (CETEM) e Professor no Programa de Pós-Graduação em Geociências, Museu Nacional, UFRJ. Inventor com 2 patentes concedidas no USPTO (Estados Unidos). Publicou 40 artigos em periódicos científicos, 4 capítulos de livro e mais de 100 trabalhos em anais de eventos. Vem atuando principalmente nos seguintes temas: caracterização de materiais; microscopia (ótica, eletrônica, digital, correlativa); microtomografia de raios X; análise de imagens; inteligência artificial; e caracterização de minério de ferro e aglomerados. Atualmente é Coordenador do Subprograma de Capacitação Institucional do CETEM (PCI-CETEM).
Otavio Gomes is Senior Technological Researcher at Centre for Mineral Technology (CETEM) in Rio de Janeiro (Brazil), and Lecturer at Postgraduate Program in Geosciences (National Museum, Federal University of Rio de Janeiro).
He graduated in Chemical Engineering (1998) by Federal University of Rio de Janeiro and earned Master (2001) and D.Sc. (2007) degrees in Materials Engineering and Metallurgy by Catholic University of Rio de Janeiro. Between 2012 and 2013, he spent a year at the University of Liège (Belgium) in a postdoctoral internship.
His bibliographical production comprises 40 papers in referred journals, 4 book chapters, and more than 100 conference works. He delivered 19 talks at international conferences.
He holds 2 patents at United States Patent and Trademark Office.
His main areas of interest are materials characterization, computer-assisted microscopy, image processing and analysis, and iron ore.
Since 2015, he holds the ?Grant of Productivity in Technological Development and Innovative Extension? of Brazilian National Council for Scientific and Technological Development.
Co-editing special issue "Computer-Assisted Microscopy for Characterization of Ores and Rocks" for Minerals MDPI journal:
https://www.mdpi.com/journal/minerals/special_issues/Ore_Characterization
