Angelo Malachias de Souza

Professor Adjunto do Departamento de Física da Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG). Possui graduação em Fisica pela UFMG (1999), mestrado em Física pela UFMG (2002), doutorado em Física pela UFMG (2005) com doutorado sanduíche (CAPES) no European Synchrotron Radiation Facility (2004). Realizou pós-doutorado em difração magnética ressonante no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS-Campinas) (2006). Atuou como cientista contratado pelo Max-Planck Institut fur Festkörperforschung (Stuttgart) e European Synchrotron Radiation Facility (ESRF - Grenoble), com enfase no crescimento, processamento e estudos estruturais por raios-x em nanotubos e nanomembranas de semicondutores crescidos por MBE (2007 - 2008). Foi pesquisador e líder do grupo de Difracao de Raios-X (DRX) do Laboratorio Nacional de Luz Sincrotron (LNLS - 2008 a 2011). Tem experiência na área de Física, com ênfase em Física da Matéria Condensada e Instrumentação Específica de Uso Geral em Física, atuando principalmente nos seguintes temas: quantum dots, nanotubos de semicondutores, sistemas orgânicos auto-organizados, espalhamento e difração de raios-x, difração magnética de raios-x, microfocalizacao de raio-x, microscopia de forca atomica (AFM), epitaxia por feixe molecular (MBE), Atomic Layer Deposition (ALD), litografia óptica, microscopia eletrônica de varredura (SEM), propriedades ópticas de semicondutores (fotoluminescência e absorção). É assessor científico do Sìncrotron Canadense (Canadian Light Source - Saskatoon, Canada) e do Observatório de Ciência, Tecnologia e Inovação (OCTI - Brasília).

graduate at Fisica from Universidade Federal de Minas Gerais (1999), master's at Physic from Universidade Federal de Minas Gerais (2002), ph.d. at Physics from Universidade Federal de Minas Gerais (2005) and ph.d. at Doutorado Sanduíche (CAPES) from European Synchrotron Radiation Facility (2004). Has experience in Physics, focusing on Specific Instrumentation of General Purpose, acting on the following subjects: quantum dots, x-ray scattering, atomic force microscopy, reciprocal space mapping and espalhamento anômalo de raios-x.