Possui graduação em Geociênicas pela Universidade de São Paulo (1998), com especialização em Mineralogia Aplicada, mestrado (2003) e doutorado (2009) em Recursos Minerais pelo Instituto de Geociências da Universidade de São Paulo. Atua com difração de raios-X e método de Rietveld e também em mineralogia industrial e aplicada, com especialização no setor cimenteiro. É especialista de aplicação em difração de raios-X da empresa Panalytical para as Américas.
graduate at Geociênicas from Universidade de São Paulo (1998), master's at Geology from Universidade de São Paulo (2003) and ph.d. at Geology from Universidade de São Paulo (2009). , acting on the following subjects: x-ray diffraction, rietveld method.
