Thais Chagas Peixoto Silva

I hold a Ph.D. in Physics (2020) from the Universidade Federal de Minas Gerais in Brazil with a research stay at the Universität Siegen, Germany. I hold a Master's (2016) and a Bachelor's degree (2013) also in Physics from the same institution. I have experience in physics, with emphasis on condensed matter physics, working mainly in the investigation of the correlation between structural and electronic properties of surfaces of different materials using, for this, the techniques of scanning tunneling microscopy and spectroscopy (STM/STS). I have worked with materials such as graphene, semiconductor nanowires, topological insulators, among others. I also have experience in the growth of thin films of transition metal dichalcogenides (TaS2, MoS2, WS2) and their heterostructures using molecular beam epitaxy (MBE). Additionally, I have used X-ray diffraction and angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) techniques, measured at the Brazilian Synchrotron Light Laboratory (LNLS - Campinas, Brazil), to give experimental support to the results obtained through STM and STS techniques.

Pesquisadora de pós-doutorado na Universität Siegen, Alemanha (bolsista da Fundação Alexander von Humboldt). Doutora em Física (2020) pela Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG) com período sanduíche (PDSE/CAPES) na Universität Siegen, Alemanha. Possui mestrado (2016) e bacharelado (2013) também em Física pela mesma instituição. Tem experiência na área de física, com ênfase em física da matéria condensada, atuando sobretudo na investigação da correlação entre propriedades estruturais e eletrônicas de superfícies de diferentes materiais utilizando, para tanto, as técnicas de microscopia e espectroscopia de tunelamento (STM/STS). Tem trabalhado com materiais como: grafeno, nanofios de arseneto de gálio (GaAs), isolantes topológicos, dentre outros. Também possui experiência no crescimento de filmes finos de dicalcogenetos de metais de transição (TaS2, MoS2, WS2) e suas heteroestruturas. Adicionalmente, tem utilizado técnicas de difração de raios-X e espectroscopia de fotoemissão resolvida em ângulo (ARPES), medidas no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS - Campinas, SP), para dar suporte experimental aos resultados obtidos através das técnicas de STM e STS.