Cristalização Induzida por Níquel em Filmes de Silício Amorfo
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Visão geral
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Pesquisas
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Ciência e Tecnologia de Filmes Finos
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Cristalização Induzida por Metal
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Espectroscopia Raman
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Semicondutores Amorfos
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Tecnicas espectroscópicas
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Técnicas de Microscopia
Identidade
identificador BrCris
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f44e3b2169ab6c47c51bce94ad788924
identificador Capes
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20071733002045002P9-Publication
identificador Oasisbr
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