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Estimação da Robustez de Sistemas Eletrônicos Via Injeção de Falhas por Interferência Eletromangética
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Fabian Luis Vargas
tipo
master thesis
autores
Danniel Cavalcante Lopes
data de publicação
2005-01-01
Identidade
identificador BrCris
67738761db2e904d05b2b668053f4779