tipo
- journal article
COTS Tolerant to Total Ionizing Dose (TID): AlGaN/GaN-based transistor 10 KeV X-ray Analysis
Documento
- doi:10.1088/1742-6596/2340/1/012045
- http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012045
- https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/2340/1/012045
- https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/2340/1/012045/meta][doi:10.1088/1742-6596/2340/1/012045
- https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/2340/1/012045][doi:10.1088/1742-6596/2340/1/012045
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data de publicação
- 2022-01-01