Benchmarking contact quality in N-type organic thin film transistors through an improved virtual-source emission-diffusion model Documento uri icon

  •  
  • Visão geral
  •  
  • Identidade
  •  
  • Informação adicional documento
  •  
  • Outro
  •  
  • Ver todos
  •  

tipo

  • journal article

data de publicação

  • 2022-01-01