Um estudo sobre a Elipsometria com aplicação na caracterização de amostras de Si, SiO2, SnO2:F, WO3 e DLC.
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produzido em
- https://brcris.ibict.br/individual/cour_8b8aabff-5ff8-40a7-8da9-4f1a02e8440f
- Physics Graduate Program Programa de Pós-Graduação
tipo
- master thesis
autores
data de publicação
- 2016-01-01