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Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Antonio Ricardo Zanatta
tipo
master thesis
autores
Fábio Aparecido Ferri
data de publicação
2006-01-01
Pesquisas
palavras-chave
Espectroscopia Raman
Filmes Finos
Semicondutores amorfos
Identidade
identificador BrCris
20114bce79a048e7f5ff56a1844258ed