Propriedades Físico-Químicas de Estruturas Dielétrico/SiC e da Camada Interfacial Formada
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Visão geral
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Pesquisas
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XPS
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XRR
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análises por feixes de íons
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carbeto de silício
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filmes dielétricos
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traçagem isotópica
Identidade
identificador BrCris
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63fea5c28ef364f4aaee3d62246e24f2
identificador Capes
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20091842001013040P0-Publication
identificador Oasisbr
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URGS_58acf2eb1013e4074914d0ae2a5dbfb7