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Low Overhead Soft Error Reliabiliy Improvement for Soft Processors
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Eduardo Augusto Bezerra
tipo
master thesis
data de publicação
2018-01-01
Pesquisas
áreas de investigação
Sistemas Embarcados
palavras-chave
Embedded Systems
Fault detector
Reliability
SEU
test
Identidade
identificador BrCris
aeae919df4c67a06ecd802a42cc6c590