Surface relaxation and rumpling of Sn-doped Documento

• http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.102.245306

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Visão geral

tipo

• journal article

autores

• Alexandre Pancotti

data de publicação

• 2020-01-01

publicada em

• PHYSICAL REVIEW B: COVERING CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS 

Pesquisas

palavras-chave

• Ga2O3
• X-ray photoelectron diffraction
• XPD
• XPS
• alpha fase

Identidade

identificador BrCris

• 7c13c404b2dea802c44e15cd0145f35c

Informação adicional documento

série

• 24

Página Inicial

• 245306

Volume

• 102

Outro

tem linguagem

• Inglês