Algoritmo de tomografia por impedância elétrica baseado em Simulated Annealing.
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Visão geral
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data de publicação
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
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Método dos Elementos Finitos
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Recozimento simulado
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Tomografia por impedância elétrica
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otimização
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problemas inversos
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recozimento simulado
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simulated annealing
Identidade
identificador BrCris
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dc5ac4aeb6d2f736f558a9595a58fbbd
identificador Capes
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20074233002010046P0-Publication
identificador Oasisbr
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