Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects
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Efeitos da Radiação em Dispositivos Eletrônicos
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FPGA
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Fault injection
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RISC-V
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SRAM
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SRAM-based FPGA
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Single Event Upset - SEU
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fault tolerance
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heavy ions
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radiation effects
Identidade
identificador BrCris
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