Measurement of the insensitive surface layer thickness of a PIN photodiode based on alpha-particle spectrometry
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Diodos de Si
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Diodos de Si resistentes a danos de radiação
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Dosimetria Gama
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Dosimetria de altas doses
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Espectrometria Alfa
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Radiation Processing Dosimetry
Identidade
identificador BrCris
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f4df0ff8cffd989ddd463c186f5cbf6c
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