Produção de Nanomateriais Semicondutores e Caracterização de Suas Propriedades Estruturais, Térmicas e Ópticas
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Visão geral
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Pesquisas
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Calorimetria Diferencial de Varredura (DSC)
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DSC
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Difração de Raio X
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Difração de Raios-X (XDR)
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Espectroscopia Raman
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Espectroscopia de Absorção Fotoacústica
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Mechanical alloying
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Moagem Mecânica
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Método de Rietveld
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Semicondutores
Identidade
identificador BrCris
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a9376c36a2ad84ef752c868d30c8b786
identificador Capes
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2009541001010020P0-Publication