Caracterização de defeitos mecânicos produzidos por nanoindentação no InP
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Visão geral
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Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
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InP
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Nanoindentation
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microscopia de forca atomica
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microscopia de força atômica
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nanoindentação
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semicondutores III-V
Identidade
identificador BrCris
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15483e0b14815161e4fc389e8a588f43
identificador Capes
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2009131005012002P6-Publication
identificador Oasisbr
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PUC_RIO-1_bc10b6fe7f355eececac17bd519a079b