Observação direta de defeitos causados por corte com serra de diamante em diodos semicondutores de potência
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Visão geral
produzido em
- https://brcris.ibict.br/individual/cour_537749f3-5808-41b7-9b87-01aedbd38bb6
- Electrical Engineering Programa de Pós-Graduação
tipo
- master thesis
autores
data de publicação
- 2005-01-01