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Análise Por Feixe de Íons de Filmes Dielétricos Depositados Por Sputtering Reativo e Crescidos Térmicamente
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Fernando Lázaro Freire Júnior
tipo
doctoral thesis
data de publicação
1993-01-01
Pesquisas
áreas de investigação
Física da Matéria Condensada
palavras-chave
Filmes Finos; Análise Por Feixe de íons
Identidade
identificador BrCris
eaf4010902ab5d8738e8fc597b64ee29