ESTIMATIVA DA INCERTEZA DE MEDIÇÃO DE UM SISTEMA UTILIZADO PARA CARACTERIZAÇÃO ELETRÔNICA DE MATERIAIS SEMICONDUTORES Documento

https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=2808288

Visão geral
Pesquisas
Identidade
Ver todos

membro de

https://brcris.ibict.br/individual/comm_484b40f0-b3f8-4a11-8be7-457eed856e00

orientado por

Berenice Anina Dedavid

produzido em

https://brcris.ibict.br/individual/cour_6ce16c4b-8975-416e-b287-a47fb1e0a21b
Program in Enginnering and Materials Technology-PGETEMA Programa de Pós-Graduação

tipo

master thesis

autores

Anelise Fernandes Borcelli Bennett

data de publicação

2015-01-01

prêmio patrocinado pela

Pontificia Universidade Católica do Rio Grande Do Sul Organização