Estudo Teórico das Propriedades Estruturais e Eletrônicas de Nanofios de Silício Não-Passivados de Diâmetros Reduzidos
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Pesquisas
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dopagem e defeitos pontuais
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estrutura eletrônica
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facetas
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mecanismos de relaxação e reconstrução
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nanofios de Si de diâmetros reduzifdos
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não-passivação da superfície
Identidade
identificador BrCris
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