Refinamento da estrutura cristalina de pigmentos baseados no sistema cerâmico ZrSiO4-alfaFe2O3 utilizando difração de raios X, Método de Rietveld, Método da Máxima Entropia e Espectroscopia Mossbauer Documento uri icon

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tipo

  • master thesis

data de publicação

  • 2010-01-01