Applying Dual-Core Lockstep in Embedded Processors to Mitigate Radiation-induced Soft Errors
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Visão geral
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Pesquisas
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palavras-chave
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Embedded processors reliability
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Fault injection
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Fault tolerance
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Lockstep
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Radiation experiments
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Soft Errors
Identidade
identificador BrCris
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30f484a0a1362e1b27434103b4b209e0
identificador Capes
identificador Oasisbr
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URGS_6e5bf4fc5fc873b528a755e3bba60f39