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Modelagem de transistores de efeito de campo MOS de fortalecimento – Um estado da arte
Documento
https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/2758
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Pesquisas
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Visão geral
membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_13420c68-9ae8-4762-8568-9aadf27b3325
orientado por
Laercio Caldeira
tipo
master thesis
data de publicação
1992-01-01
Pesquisas
áreas de investigação
Circuitos Eletrônicos
palavras-chave
MOS
Identidade
identificador BrCris
db95a9f61e20dc120f2e42be7f8f6a7c
identificador Oasisbr
UFEI_8b487c1fc4e156d54af5f0832c856ae8