Caracterização Nanoestrutural de Filmes Finos do Grupo IV-B Depositados por Sputtering Magnetron.
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Visão geral
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orientado por
produzido em
tipo
data de publicação
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
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Fractais
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Scanning Probe Microscopy
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filmes finos
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microestrutura
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sputtering magnetron
Identidade
identificador BrCris
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77fcacc5a173807e5773bf219771551b
identificador Capes
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2002107333002010002P2-Publication
identificador Oasisbr
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USP_5e153c4815a66c1ac1439e8c2567a573