Algoritmos de otimização de planos de teste de unidades funcionais para circuitos BIST.
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Visão geral
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Pesquisas
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palavras-chave
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BIST
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Circuitos Integrados Digitais
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Planos de Teste
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Planos de teste
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Síntese para Testabilidade
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Testabilidade
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Teste
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síntese de alto-nível
Identidade
identificador BrCris
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1af6daa5e73188e1d921ad6a41738ba0
identificador Oasisbr
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USP_47f394222dfe40c08766cfc76f062e47