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Metodologia de Análise de RAM por Simulação de Eventos Discretos Aplicada à Indústria Off-Shore
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Annibal Parracho Sant'Anna
tipo
master thesis
autores
Tobias Vieira Alvarenga
data de publicação
2005-01-01
Pesquisas
áreas de investigação
Pesquisa Operacional
palavras-chave
Confiabilidade Industrial
Controle da Qualidade
Modelagem Estatística
Identidade
identificador BrCris
8feb0ed1d443128447936eaef3e96849