"Estudo do processo de formação de nanopartículas de GeSi em matriz de sílica por técnicas de luz síncrotron"
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Visão geral
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Pesquisas
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palavras-chave
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Espectroscopia de absorção de Raios-X
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GISAXS
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Nanocristais semicondutores
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XRD - Difração de Raios-X
Identidade
identificador BrCris
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74d8e22cabad2034f5f7a947ff29d64a
identificador Capes
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20113833733003017002P9-Publication
identificador Oasisbr
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UNICAMP-30_2643628afd859c040b60711b519a9266