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Geração Automática de Padrões para Teste Estrutural de Circuitos Analógicos
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Marcelo Soares Lubaszewski
tipo
master thesis
data de publicação
2018-01-01
Pesquisas
áreas de investigação
OUTROS
palavras-chave
Circuitos Analogicos
Teste Analógico
Identidade
identificador BrCris
2a6f7f047c122eb1b1f5bedaefc5a687