Depth profiling of ion-implanted samples by high-energy electron scattering
Documento
-
- Visão geral
-
- Pesquisas
-
- Identidade
-
- Informação adicional documento
-
- Outro
-
- Ver todos
-
Visão geral
tipo
data de publicação
publicada em
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
-
Depth Profiling
-
Dielectric Function
-
Electron Transport
-
electron scattering
Identidade
identificador BrCris
-
fa287eb4eac9ff0f0e859ba5d33abf1a
Outro