A Robust System for Thermoelectric Device Characterization Documento

• doi:10.1109/tim.2021.3115213
• http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2021.3115213
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Visão geral

tipo

• journal article

autores

• Adhimar Flávio de Oliveira
• João Ider Silva Júnior
• RERO MARQUES RUBINGER

data de publicação

• 2021-01-01

publicada em

• IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 

Pesquisas

áreas de investigação

• Física da Matéria Condensada
• Materiais Não-Metálicos

palavras-chave

• Electrical conductivity
• Figure of merit
• Merit factor
• Seebeck coefficient
• Systematic erros
• Thermal conductivity
• Thermoelectric device characterization
• coeficiente seebeck
• conductivity
• instrumentation

Identidade

identificador BrCris

• c3d2c5c14301328165353e2190295fce

Informação adicional documento

Página Inicial

• 1

página final

• 7

Volume

• 70

Outro

tem linguagem

• Inglês
• Português