Defeitos superficiais macroscópicos observados em camadas de GaAs crescidas pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular (MBE)
Documento
-
- Visão geral
-
- Pesquisas
-
- Identidade
-
- Ver todos
-
Visão geral
produzido em
tipo
data de publicação
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
-
GaAs
-
defeitos ovais
-
desordem
-
epitaxia por feixe molecular
-
microsonda
Identidade
identificador BrCris
-
c0d3f59d10f2416aeb03e107d986d9e7