"Estudo das propriedades estruturais e ópticas em materiais nanoestruturados a base de silício"
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Visão geral
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Pesquisas
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FOTOLUMINESCÊNCIA
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Filmes finos semicondutores
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Microscopia Eletrônica de Transmissão
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Multicamadas a Base de Silício
Identidade
identificador BrCris
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cfa02ed6f240cab3840ace212d66bdaa
identificador Capes
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20099433002010045P3-Publication
identificador Oasisbr
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USP_c8f2b961fe35ba7b761da05e530a11bc