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Temperature Effects on Soft Error Rate Due to Atmospheric Neutrons on 28nm FPGAs
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membro de
https://brcris.ibict.br/individual/comm_ee459614-d3fc-461b-b7eb-f628e356a377
orientado por
Paolo Rech
tipo
master thesis
data de publicação
2014-01-01
Pesquisas
áreas de investigação
Teste e Tolerância a Falhas
palavras-chave
SRAM-based FPGA
neutrons
soft error
temperatura
Identidade
identificador BrCris
d5f7d8beecd64f72dba898dd0ad4a6b6