Radiation robustness of XOR and majority voter circuits at finFET technology under variability
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Visão geral
orientado por
produzido em
- https://brcris.ibict.br/individual/cour_e0418255-8c2e-4a6b-8a5c-24640437d0da
- Microelectronics Programa de Pós-Graduação
tipo
- master thesis
autores
data de publicação
- 2017-01-01
prêmio patrocinado pela
- Universidade Federal de Rio Grande Do Sul Organização