área de pesquisa
- Análise do Efeito de Proximidade e Explosão Coulombiana em Filmes Ultrafinos
- Caracterização do arranjo estrutural de sistemas enterrados de nanopartículas pela técnica de MEIS
- Caracterização estrutural de nanocristais compostos via espelhamento de íons de alta resolução
- Cleber Lima Rodrigues
- Elucidating the capability of electron backscattering for 3D nano-structure determination
- Estudo das modificações induzidas pela irradiação de íons em sistemas com acoplamento interfacial ferro-antiferromagnético
- Estudo do Alcance de Íons Pesados em Alvos de Berílio, Carbono e Dióxido de Silício
- Estudo do efeito de espalhamento múltiplo na análise de nanopartículas por feixe de íons
- Estudo do poder de freamento de He, Li, Eu e Bi canalizados em alvos de Si cristalinos
- Estudo do Poder de Freamento de Li em alvos de Si amorfo
- IMPLANTAÇÃO IÔNICA POR IMERSÃO EM PLASMA DE AÇO INOX, PZT E POLÍMEROS PARA APLICAÇÃO ESPACIAL.
- José Osvaldo Rossi
- On the energy-loss straggling of protons in elemental solids: the importance of electron bunching
- Perda de Energia de Ions Canalizados em Si : Efeito Barkas
- Rossano Lang Carvalho
- Simulação do Pico de Superfície de Al e Si
- Uso da técnica de cartografia-MEIS para adeterminação da deformação no parâmetrode rede em filmes finos
- Ítalo Martins Oyarzabal