Lambert-W function-based parameter extraction for FDSOI MOSFETs down to deep cryogenic temperatures
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Visão geral
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palavras-chave
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Cryo-CMOS
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Electrical characterization
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FDSOI
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Lambert-W function
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SOI MOSFETs
Identidade
identificador BrCris
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c80e27d879ad1a3aba61755b6bc9668d
Outro