Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes
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High Resolution X-Ray Diffraction (HRXRD)
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Ion Implantation
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X-Ray Multiple Diffraction (XRMD)
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X-ray Diffraction (XRD)
Identidade
identificador BrCris
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706a130d2c6df6703bd468f7f245c166
identificador Capes
identificador Oasisbr
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UNICAMP-30_1bcee2aca3a605779399bf937f588ea5