Bacharel em Física (UFBA,1973), Mestre em Física (UNICAMP, 1976), Doutor em Ciências (UNICAMP, 1983) e Pós-doutor (Brookhaven National Laboratory, N.Y., EUA, set/84 a set/86). Pesquisador CNPq II (março/2017 ? fev/2020). Atualmente é Professor Colaborador do IFGW da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) (desde 05/ 2019). Professor Titular (MS 6) aposentado abril/2019. Coordenador do Laboratório de Preparação e Caracterização de Materiais (LPCM) (agosto/2008-abril/2019) e também do antigo Laboratório de Difração de Raios-X (1991-2008). Atuou como Assessor do Pró-Reitor de Extensão e Assuntos Comunitários (01/2001 - 05/2002 e 06/2005 - 08/2012) e Secretário Executivo do Conselho de Extensão (CONEX) (03/2001 - 05/2002 e 12/2007-03/2012). Professor visitante na University of Strathclyde, Glasgow, Escócia (março/95-fev/96); Professor convidado ? Université de Bourgogne, Dijon, França (jan - fev/2001 e 2002), Universidade Federal do Ceará (nov-dez/03) e atualmente Professor visitante, University of Leeds, Leeds, Inglaterra (março/2006 -dez/2017). Recebeu o prêmio Zeferino Vaz por Reconhecimento Acadêmico (UNICAMP, 2016). Orientação e/ou supervisão de estudantes concluídas: doutorados (12), mestrados (11), Pós-doutorados (5) e IC (40). Publicações indexadas 164 (h=30) - citações > 2900 (fator de impacto > 498) e 2 patentes publicadas. Tem experiência na área de Física da Matéria Condensada com atuação no estudo de propriedades estruturais de materiais cristalinos utilizando a difração de raios-X, particularmente a difração múltipla de raios-X (uso da radiação sincrotron em vários laboratórios internacionais). Também tem interesse no desenvolvimento de instrumentação para a pesquisa.
graduate at Bacharelado em Física from Universidade Federal da Bahia (1973), master's at Physic from Universidade Estadual de Campinas (1976) and ph.d. at Physic from Universidade Estadual de Campinas (1983). Has experience in Physic, focusing on Physics Of The Condensed State Of Substance, acting on the following subjects: difracao de raios-x, difracao multipla de raios-x, semicondutores, caracterizacao estrutural and propriedades estruturais.
