"Estudo de célula de memória dinâmica de apenas um transistor SOI de óxido enterrado ultrafino"
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Visão geral
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Pesquisas
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palavras-chave
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Altas temperaturas
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Caracterização Elétrica de Transistores SOI
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FBRAM
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Modelagem de Transistores SOI
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Simulação de Dispositivos
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Tecnologia SOI MOSFET
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UTBOX
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Z-RAM
Identidade
identificador BrCris
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863de55f328c25deed7c9318d33244b1
identificador Capes
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20129933002010045P3-Publication
identificador Oasisbr
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USP_9f63d74ea0b8b0d91f9ef61e014355c6