Estudo e Implementação de um Microcontrolador Tolerante à Radiação.
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Visão geral
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Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
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Auto-teste integrado
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Microeletronica
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Microprocessadores
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Teste de corrente
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Tolerância a Falhas
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Tolerância a Radiação
Identidade
identificador BrCris
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3c1b0a966ef2bcfd3722713c20227ca6
identificador Capes
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2009842001013066P0-Publication
identificador Oasisbr
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URGS_576fca44b46418f5f9cabfa445440351